芯片（金片）电容四参数测试机

序号

项目

技术参数

备注

1

测试参数

Cp，Df，TV，IR，

2

测试仪器

是德科技容量表E4981A电桥 1台；日本HIOKI绝缘表 2台；

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容量表

测试频率

120Hz  1kHz 、1MHz

测试范围

1PF-1mF多挡选择

测试电压

0-1V

测试精度

容量：±0.5%（1MHz）；±1% （1KHz）

• 损耗角偏差:
• 1MHz：测试设备测量值与E4981A仪表测量值之间误差小于0.0002；
• IKHz：测试设备测量值与E4981A仪表测量值之间误差小于0.002。

4

高阻表

*少电流分辨率

0.01fA，

测试电压

DC10～1000V

电流测试精度

±（1%+10dgt）

充电电流

2mA～50mA

5

耐压表

*高测试电压

DC1000V

电流测试范围

20pA~2mA

电流测试精度

±（1%+10dgt）

充电电流

2mA～50mA

6

测试芯片规格

本设备兼容芯片多层电容1515、2020、3030；

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设备空转运行速度

150片/分钟；

8

测试速度

3030: 80~120片/分钟；

2020/1515：60~80片/分钟；

（在测试过程中，由于每种电容的充电放电测试时间会有所区别，所以测试速度和产能上会有所区别的！）

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合格**的测试合格率及重测率

测试合格率 ≥95%；

重测率≦5%；

10

测试要求：

合格仓产品合格率100%（即合格仓不能存在不合格品）；

NG仓误判率≤1.5%；

重测率≤5%；

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档位（8个）

Df_NG档 1个，Cp_NG档1个，重测档1个，TV/IR_NG档1个，合格档 4个；

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测试后芯片外观

会产生测试电极接触痕迹，但能满足客户的外观要求。芯片进行搬送及接触，无刮伤至露陶瓷体现象。